工業(yè)CT用于測(cè)量產(chǎn)品的復(fù)雜內(nèi)部結(jié)構(gòu)并探測(cè)其內(nèi)部的所有故障，任何一個(gè)步驟均不需對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行拆解。產(chǎn)品高精度非破壞性檢查系統(tǒng)為制造商提供了技術(shù)支持。系統(tǒng)通過(guò)捕捉穿過(guò)樣品投射的X射線生成2D圖像。通過(guò)旋轉(zhuǎn)樣品連續(xù)拍攝，再由電腦處理，即可生成3D CT（計(jì)算機(jī)斷層掃描）圖像。

　　工業(yè)CT檢查系統(tǒng)通過(guò)將熱電子瞄準(zhǔn)金屬靶生成X射線。一般來(lái)說(shuō)，可通過(guò)增大熱電子生成試管的電壓來(lái)加大X射線的強(qiáng)度，以穿透較厚樣品。但是這樣便會(huì)產(chǎn)生較大的“焦點(diǎn)尺寸”（熱電子射在目標(biāo)物體上的聚集點(diǎn)尺寸），從而降低所生成X射線圖像的清晰度。

　　一般來(lái)說(shuō)，工業(yè)CT檢測(cè)結(jié)果精度越高越好，但是檢測(cè)精度和各種因素相關(guān)，理論上來(lái)說(shuō)，檢測(cè)精度反映被測(cè)物理量的實(shí)測(cè)值和真實(shí)值之間的誤差大小，誤差越大，精度越低，誤差越小，精度越高。
 

　　如果測(cè)量過(guò)程是在理想環(huán)境條件下進(jìn)行，則測(cè)量的結(jié)果將十分正確。但這種理想的測(cè)量環(huán)境和條件在實(shí)際中是不存在的，也就是誤差無(wú)法避免的。

　　誤差的大小與工業(yè)CT設(shè)備的精度、檢測(cè)過(guò)程中的隨機(jī)因素、測(cè)量方法等許多因素有關(guān)，其中工業(yè)CT設(shè)備的精度對(duì)誤差的影響非常大。

　　一般測(cè)量?jī)x器的精度就是其最小刻度長(zhǎng)度，比如，普通直尺最小刻度為1mm，即測(cè)量精度為1mm。在GJB 5312中像素定義為構(gòu)成工業(yè)CT圖像的基本單元。工業(yè)CT設(shè)備的檢測(cè)精度就是像素尺寸大小。

　　在工業(yè)CT設(shè)備條件允許的情況下，通過(guò)探元尺寸、探測(cè)器尺寸、工件尺寸可獲得工件的工業(yè)CT檢測(cè)精度。